低温试验箱适用于非散热和散热两类试验样品。考核和确定电工、电子产品在低温环境条件下贮存和使用的适应性。
低温试验方法分为以下三类
非散热试验样品低温试验：--试验Aa：温度突变
--试验Ab：温度渐变
散热试验样品低温试验：  --试验Ad：温度渐变
低温试验方法通常用于条件试验期间能达到温度稳定的试验样品。试验持续时间是从试验样品温度达到稳定时开始计算的。在特殊情况下，如果条件试验期间试验样品达不到温度稳定，则试验持续时间从试验箱达到规定试验温度时开始计算。
相关规范应规定：
a）试验箱内温度变化速率；
b）试验样品放入试验箱的时间；
c）试验样品在试验条件下暴露试验开始的时间；
d）试验样品通电或加负载的时间。
在这些条件下，相关规范的制定者可根据GB/T 2424.1-1989导则选定以上4个参数（以上条件下的修订正在考虑之中）