高低温试验箱
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低温试验箱的概述

时间:2012-8-31 7:57:30
 

    低温试验箱适用于非散热和散热两类试验样品。考核和确定电工、电子产品在低温环境条件下贮存和使用的适应性。
低温试验方法分为以下三类
非散热试验样品低温试验:--试验Aa:温度突变
                        --试验Ab:温度渐变
散热试验样品低温试验:  --试验Ad:温度渐变
低温试验方法通常用于条件试验期间能达到温度稳定的试验样品。试验持续时间是从试验样品温度达到稳定时开始计算的。在特殊情况下,如果条件试验期间试验样品达不到温度稳定,则试验持续时间从试验箱达到规定试验温度时开始计算。
    相关规范应规定:
a)试验箱内温度变化速率;
b)试验样品放入试验箱的时间;
c)试验样品在试验条件下暴露试验开始的时间;
d)试验样品通电或加负载的时间。
在这些条件下,相关规范的制定者可根据GB/T 2424.1-1989导则选定以上4个参数(以上条件下的修订正在考虑之中)

 
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